Charakterisierung von Metallen und Metal-Silicium-Schichtsystemen mittels Röntgenstreuung.pdf

Charakterisierung von Metallen und Metal-Silicium-Schichtsystemen mittels Röntgenstreuung

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DATEIGRÖSSE 5.87 MB
ISBN 9783898737326
AUTOR Mirko Löhmann
DATEINAME Charakterisierung von Metallen und Metal-Silicium-Schichtsystemen mittels Röntgenstreuung.pdf
VERöFFENTLICHUNGSDATUM 09/03/2020

2.7.2 Realisierung der Hirshfeldanalyse mittels CrystalExplorer . ... vergleichsweise aufwändige Schichtsysteme und Dotierungen erreicht ... auf die Organik aufgebracht werden, wobei es zu Interkalation von Metall kommen kann, ... Die Hirshfeldflächen alleine liefern noch keine Charakterisierung der Kristallstruktur. Al-. Die Charakterisierung der generierten Cluster erfolgte mit einem ... zum darunter liegenden Silicium und ermöglichte somit die elektrochemische Abschei- dung von ... wie folgt erklären: Im ersten Schritt wird auf die Spitze elektrochemisch Metall aus ei- ... Atomic resolution on small three–dimensional metal clusters by STM.